NanoAndMore

NanoAndMore — Nanosensorlar, BüdcəSensorları və nanoalətlər, kalibrləmə standartları və nanotexnologiya üçün digər məhsullardan olan AFM kantilevers üçün bir distribütordur.[1]

NanoAndMore
Ümumi məlumatlar
Təsis tarixi 2002
Baş qərargahın yeri

NanoAndMore Almaniyada 2002-ci ildə qurulmuş və 2005-ci ildə ABŞ-də fəaliyyətə başlamışdır. 2005-ci ildə İsveçrənin Schaffhausen şəhərindən olan NanoWorld Holding AG, NanoAndMore şirkətini Nanotexnologiya şirkətlərindən ibarət NanoWorld qrupuna daxil etdi. AFM zondlarında dünya bazarının lideri olan NanoWorld, NanoAndMore şirkətini NanoWorld və Nanosensors məhsullarının rəsmi distribütoru təyin etdi.[2][3] NanoAndMore, Almaniyanın Vetslar bölgəsindən Avropa bazarına və Lady's Island'dan (Cənubi Karolina), ABŞ – Şimali və Cənubi Amerika bazarlarına xidmət göstərir.

NanoAndMore tərəfindən yayılan AFM zondları və aksesuarları Atom Gücü Mikroskopiyasında materialşünaslıq, fizika, biologiya, həyat elmləri və yarımkeçirici sənayedə istifadə olunur.[4][5] NanoAndMore tərəfindən satılan AFM zondları, sığınacaq araşdırma, Bruker, JPK, Molekulyar Görüntü, Nanosurf, Veeco, WiTEK, NTMDT, Novascan və s. kimi ümumi Atom Force Mikroskoplarına (AFM) uyğundur. AFM zondlarının əhəmiyyətli bir distribütoru olaraq, tez-tez tədqiqat sənədlərində tədarükçü kimi göstərilmişdir və buna görə Atom Gücü Mikroskopiyası üçün vacib bir mənbə hesab olunur.[6]

  1. Stefanov, Y.; Ruland, T.; Schwalke, U. (2011). "Electrical AFM Measurements for Evaluation of Nitride Erosion in Shallow Trench Isolation Chemical Mechanical Planarization". MRS Proceedings. 838.
  2. ""NanoWorld AG appoints NanoAndMore USA Corp"". 2022-05-24 tarixində arxivləşdirilib. İstifadə tarixi: 2019-07-23.
  3. "Atomic Force Microscopy of Biological Membranes". 2023-08-04 tarixində arxivləşdirilib. İstifadə tarixi: 2019-07-23.
  4. Taubert, A.; Arbell, I.; Mecke, A.; Graf, P. (2006). "Photoreduction of a crystalline Au(III) complex: A solidstate approach to metallic nanostructures". Gold Bulletin. 39 (4): 205.
  5. Klapetek, P.; Valtr, M.; Nečas, D.; Salyk, O.; Dzik, P. (2011)."Atomic force microscopy analysis of nanoparticles in non-ideal conditions"
  6. ""Katalog – NanoAndMore GmbH – AFM sensoren"". 2022-09-01 tarixində arxivləşdirilib. İstifadə tarixi: 2019-07-23.

Xarici keçidlər

[redaktə | mənbəni redaktə et]